为教学、QA 与入门科研而设计的台式 AFM
AtomExplorer 把研究级 AFM 的核心能力浓缩到一台桌面级设备：双量程扫描器（100 μm 大范围 + 30 μm 高分辨），7 种测量模式一机覆盖，配合一键自动化流程，新手 15 分钟即可独立上手。
适用于高校本科实验室、研究生入门训练、企业 QA 例行检测，也为第三方检测机构提供性价比最高的多模式 AFM 解决方案。
双量程扫描器
100 μm 大范围 + 30 μm 高分辨，一键切换无需更换探头。
7 种测量模式
接触 / 轻敲 / 相位 / EFM / KPFM / MFM / PFM 全覆盖。
教学友好
中英双语 GUI、视频教程、标准课程包，本科生可独立操作。
一键自动化
自动激光寻峰、自动进针、自动扫描 — 从开机到首张图 15 分钟。
规格与核心技术
| 大量程 XY | 100 × 100 μm |
| 高分辨 XY | 30 × 30 μm |
| Z 范围 | 10 μm |
| Z 本底噪声 | 0.04 nm |
| 扫描角 | 0 – 360° |
| 像素分辨率 | 32×32 – 2048×2048 |
| 最大样品尺寸 | 4″ / 100 mm |
| 最大样品厚度 | 15 mm |
| 电动 XY 平台 | 选配 25 × 25 mm |
| 形貌模式 | 接触 / 轻敲 / 相位 |
| 电学模式 | EFM / KPFM（抬起模式） |
| 磁学模式 | MFM（抬起模式） |
| 压电模式 | PFM（接触模式） |
| 架构 | FPGA 数字控制 |
| 反馈环路 | 最高 50 kHz |
| 锁相放大器 | 内置 1 路 >500 kHz |
| 同步通道 | 最多 8 通道 |
| 控制软件 | AtomControl Lite（中英双语） |
| 分析套件 | 粗糙度 / 截面 / 粒子分析 / 三维可视化 |
| 整机尺寸 | 420 × 380 × 520 mm |
| 重量 | 约 35 kg |
双量程扫描器
100 μm 大范围和 30 μm 高分辨两套闭环反馈共用一个扫描头，软件中一键切换，不需要拆装硬件。对教学实验而言，一台设备就能同时演示"看全貌"和"看细节"两种典型 AFM 任务。
高分辨量程下 Z 噪声低至 0.04 nm，已经可以分辨石墨烯单层台阶和自组装单分子层的高度差。
7 种模式一机覆盖
接触 / 轻敲 / 相位形貌 + EFM / KPFM 电学 + MFM 磁学 + PFM 压电 — 一台入门级设备覆盖研究生阶段所有常用 AFM 课题，无需升级换台。
相较只支持形貌+轻敲的同价位设备，AtomExplorer 把电学和磁学的入门门槛直接降到了本科实验的水平。
一键自动化流程
自动激光寻峰 → 自动 PSD 对准 → 自动进针 — 所有容易出错的手动步骤都由软件完成，新手也能在第一次上手时得到清晰图像。
对多人共享设备的高校实验室来说，这意味着讲解一次、人人能用，不会因为操作失误损坏探针或样品。
教学与 QA 双场景
随机附赠标准课程包：石墨烯台阶、光栅校准片、磁带磁畴、铁电畴 — 覆盖从入门到电磁力的完整教学链条，实验助教无需自备样品。
企业 QA 场景下，保存标准测量 recipe 后可由车间技术员一键复现，支持自动出具 PDF 报告。
为什么教学实验室和企业 QA 选 AtomExplorer
不是把研究级 AFM 简配 — 而是针对教学与 QA 场景重新设计。
双量程切换
100 μm 看全貌 + 30 μm 看细节，软件一键切换，无需换扫描头。
测量模式
形貌 / EFM / KPFM / MFM / PFM 一机覆盖，从本科到研究生课题无需升级。
Z 噪声
亚纳米级垂直分辨率，石墨烯台阶、自组装膜都能清晰成像。
开机到首张图
自动寻峰 + 自动进针，新手在无监督下也能得到清晰结果。
台式设计
单人可搬运，420 × 380 × 520 mm，实验桌就能用。
双语 GUI
中英文随时切换，标准课程包含视频教程与练习样品，直接交付本科教学。
实测扫描结果
AtomExplorer 在教学样品、能源材料、磁记录介质、铁电材料等场景下的真实扫描图。
ZnInS 光催化前 · 轻敲 · 5 × 5 μm
光催化反应前的 ZnInS 薄膜形貌 — 晶粒细密、表面光滑。
ZnInS 光催化后 · 轻敲 · 5 × 5 μm
反应后同一区域的形貌对比，粗糙度上升，证实了表面反应活性。
氧化石墨烯 · 轻敲 · 10 × 10 μm
单层 GO 片层的高度分布，清晰分辨 ~1 nm 层厚。
PS-PBMA 共聚物 · 相位 · 2 × 2 μm
嵌段共聚物的微相分离，相位图清晰显示两相区域。
Au-Ti 电极 · EFM 抬起 · 5 × 5 μm
金-钛条带电极的静电力成像，EFM 教学标准样品。
硬盘磁道 · MFM 抬起 · 5 × 5 μm
硬盘盘片磁道成像，单比特磁畴清晰可辨。
软盘磁带 · MFM 抬起 · 25 × 25 μm
教学常用样品，磁畴条纹直观呈现磁记录原理。
PbTiO₃ · PFM 接触 · 3 × 3 μm
铁电薄膜的垂直压电响应图，明暗对比显示畴结构。
PMN-PT · PFM 接触 · 5 × 5 μm
弛豫铁电体的复杂畴结构，PFM 相位图识别极化方向。
CuInP₂S₆ · PFM 接触 · 3 × 3 μm
二维铁电材料的面内极化成像，前沿科研课题典型样品。
真实规格，真实数据，真实发表。
论文
AtomControl Lite
中英双语实时控制
GUI 语言随时切换，实时形貌预览 + 自动逼近状态 + 四步自动化流程（参数→进针→扫描→退针），直接用于双语课堂。
完整分析软件
内置粗糙度 (Ra/Rq/Rz)、截面高度、粒子分析和三维可视化，支持出版级导出和自动化 PDF 报告。
标准 recipe 管理
保存测量配方供 QA 反复调用，车间技术员一键复现。形貌图 + 参数表 + 截面数据一键生成 PDF 报告。
常见问题
由 致真精密仪器（Truth Instruments） 制造 — 2019 年成立于青岛，北京、杭州设研发中心，国家级"专精特新小巨人"企业。51% 员工投入研发，持 70 项专利 与 31 项软件著作权。设备覆盖清华、北大、复旦、浙大、中科大、哈工大、中科院物理所、西湖大学等 49+ 研究机构，并服务中芯国际、西部数据、歌尔、华大基因等产业客户。
